電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)
為評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)，廣義說(shuō)，包括各種環(huán)境條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)。按試驗(yàn)項(xiàng)目可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)和特殊試驗(yàn)；按試驗(yàn)?zāi)康目煞譃楹Y選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn)；按試驗(yàn)性質(zhì)可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)。
  通過(guò)可靠性試驗(yàn)，可以確定電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或存儲(chǔ)時(shí)的可靠性特征量，為使用、生產(chǎn)和設(shè)計(jì)提供有用的數(shù)據(jù)；也可以暴露產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、原材料和工藝流程等方面存在的問(wèn)題。通過(guò)失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施，可使產(chǎn)品存在的問(wèn)題逐步解決，提高產(chǎn)品可靠性。
  評(píng)價(jià)和分析產(chǎn)品壽命特征的試驗(yàn)稱(chēng)為壽命試驗(yàn)。對(duì)于大部分電子產(chǎn)品，壽命是*主要的一個(gè)可靠性特征量。因此，可靠性試驗(yàn)往往指的就是壽命試驗(yàn)。壽命試驗(yàn)可分為非工作狀態(tài)的存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)和工作狀態(tài)的工作壽命試驗(yàn)兩類(lèi)。為了縮短試驗(yàn)周期、減少樣品數(shù)量和試驗(yàn)費(fèi)用，常常采用加速壽命試驗(yàn)。在不改變產(chǎn)品的失效機(jī)理和增添新的失效因子的前提下，提高試驗(yàn)應(yīng)力（相對(duì)于工作狀態(tài)的實(shí)際應(yīng)力或產(chǎn)品的額定承受應(yīng)力），以加速產(chǎn)品的失效過(guò)程。根據(jù)試驗(yàn)中應(yīng)力施加方式的不同，又可分為：①在試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)力保持不變的恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)；②試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)力逐級(jí)步進(jìn)式增加的步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)；③試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)力連續(xù)增加的序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)。
  在電子產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)中，*常用的應(yīng)力為溫度和電壓。以溫度為應(yīng)力的加速壽命試驗(yàn)，其基本理論模型是化學(xué)反應(yīng)動(dòng)力學(xué)的阿列尼烏斯方程
              [196-01]式中[kg2]d/d為某種物理、化學(xué)反應(yīng)過(guò)程的速率；為比例常數(shù)；為玻爾茲曼常數(shù)；為激活能；為**溫度；為時(shí)間。上式可變換為
              [196-02]即壽命的對(duì)數(shù)與**溫度的倒數(shù)成線(xiàn)性關(guān)系。
  以電壓為應(yīng)力的加速壽命試驗(yàn)，其基本理論模型為逆冪律
                  [196-03]式中為比例常數(shù)，為所施加的電壓。
  上式可變換為
              ln＝＋ln 即壽命的對(duì)數(shù)與電壓的對(duì)數(shù)成線(xiàn)性關(guān)系。
   由于壽命試驗(yàn)費(fèi)時(shí)較多，通常不待受試樣品全部失效就要結(jié)束，即大部分壽命試驗(yàn)都是截尾試驗(yàn)。根據(jù)試驗(yàn)截尾方式(固定試驗(yàn)時(shí)間或固定試驗(yàn)中失效樣品數(shù))和受試樣品失效后有無(wú)替換，壽命試驗(yàn)可分為四種：①無(wú)替換定時(shí)截尾試驗(yàn)；②有替換定時(shí)截尾試驗(yàn)；③無(wú)替換定數(shù)截尾試驗(yàn)；④有替換定數(shù)截尾試驗(yàn)。在電子產(chǎn)品壽命試驗(yàn)中，*常用的壽命分布為指數(shù)分布、威布爾分布和對(duì)數(shù)正態(tài)分布。*常用的壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析方法有概率紙圖解法、*大似然估計(jì)法、*佳線(xiàn)性無(wú)偏估計(jì)法、*佳線(xiàn)性不變估計(jì)法等。
  昆侖電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn),電子產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)，電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)設(shè)備
   所謂篩選，就是設(shè)法除去在材料、元件、器件、設(shè)備、系統(tǒng)等方面潛在的**因素和缺陷，而把優(yōu)良的產(chǎn)品挑選出來(lái)。采用外加應(yīng)力或其他手段將成品中潛在的早期失效產(chǎn)品剔除的試驗(yàn)稱(chēng)為可靠性篩選。外加應(yīng)力可以是熱應(yīng)力、電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力或者幾種應(yīng)力的組合，篩選應(yīng)力大小和作用時(shí)間的選取原則是：①針對(duì)產(chǎn)品的主要失效機(jī)理；②所用的應(yīng)力對(duì)于良好的產(chǎn)品應(yīng)無(wú)破壞作用，而對(duì)于有缺陷的產(chǎn)品應(yīng)能使缺陷很快暴露；③根據(jù)用途、成本、產(chǎn)品批量大小和試驗(yàn)設(shè)備等條件統(tǒng)一考慮，力求*佳的經(jīng)濟(jì)效果；④充分調(diào)查，收集數(shù)據(jù)，掌握產(chǎn)品的失效分布和失效機(jī)理，才能確定合理的篩選項(xiàng)目。*常見(jiàn)的篩選方法有:①目檢（顯微鏡鏡檢、X射線(xiàn)照相、紅外掃描等）；②電性能測(cè)試；③密封檢漏；④環(huán)境應(yīng)力篩選（恒定加速、機(jī)械振動(dòng)、沖擊、溫度循環(huán)、熱沖擊等）；⑤壽命篩選（高溫儲(chǔ)存、功率老化、高溫反偏等）。

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